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TESCAN S8000G 高分辨镓离子型双束扫描电镜
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TESCAN S9000G 超高分辨型镓离子源型双束扫描电镜
TESCAN S9000G 新一代超高分辨镓离子FIB-SEMTESCAN S9000G 是一款镓离子源的 FIB-SEM 系统,适用于超薄 TEM 样品制备和其它具有挑战性的纳米加工任务,这些任务
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TESCAN LYRA3镓等离子双束FIB系统(GM)
,使得对一些不方便进行切割等处理的样品的观察成为可能。TESCAN LYRA3镓等离子双束FIB系统基于高分辨率肖特基FEG-SEM镜筒和高性能聚焦离子束镜筒,LYRA3 FIB-SEM是一款SEM与
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TESCAN Xe等离子双束扫描电镜(FIB-SEM)
TESCAN FERA3氙等离子超高速双束FIB系统(GM)分析潜力高亮度肖特基发射可获得高分辨率、高电流和低噪声的图像选配的In-Beam二次电子探头可获取超高分辨率图像三透镜大视野观察(Wide
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TESCAN大样品仓双束电镜 (FIB-SEM)
TESCAN FERA3氙等离子超高速双束FIB系统(XM)分析潜力高亮度肖特基发射可获得高分辨率,高电流和低噪声的图像选配的In-Beam二次电子探头可获取超高分辨率图像三透镜大视野观察
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TESCAN S9000X 超高分辨型氙离子源双束扫描电镜
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TESCAN S8000X 高分辨氙离子源双束扫描电镜
,通用的Xe等离子体FIB-SEM平台,可实现大批量样品表征和无Ga样品制备和改性。 广泛的离子束电流范围提供了无与伦比的FIB多功能性与传统的Ga-FIB相比,铣削速度提高了50倍大FIB电流
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TESCAN 聚焦离子束扫描电镜 LYRA3(XM)
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TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统
质量分辨率: >800质量分析范围:1-2500原始束流或速能量: 30 kV仪器种类:飞行时间这款产品集成了TESCAN公司的聚焦离子束扫描电镜和Tofwerk公司提供的飞行时间二次离子质谱仪的
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聚焦离子束扫描电镜—GAIA3 XMU/XMH
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